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參數資料
型號: W29S201
廠商: WINBOND ELECTRONICS CORP
英文描述: 128K×16bit CMOS Flash Memory With Synchronous Burst Read(具有同步脈沖讀模式的128K×16位CMOS閃速存儲器)
中文描述: 128K的× 16位的CMOS同步突發讀取快閃記憶體(具有同步脈沖讀模式的128K的× 16位的CMOS閃速存儲器)
文件頁數: 15/31頁
文件大小: 253K
代理商: W29S201
Preliminary W29S201
Publication Release Date: April 1999
- 15 -
Revision A1
DC CHARACTERISTICS
DC Operating Characteristics
(V
DD
= 5.0V
±
10
%
, V
SS
= 0V, T
A
= 0 to 70
°
C)
PARAMETER
SYM.
TEST CONDITIONS
LIMITS
UNIT
MIN. TYP.
MAX.
V
DD
Assyn. Read
Current
I
CCR1
CE=OE=V
IL
, WE=V
IH
,MODE =V
IH,
all DQs open, CLK & ADV = V
IL
/V
IH
,
Address Inputs =V
IL
/V
IH
at f = 5 MHz
-
35
75
mA
V
DD
Synch Burst
Read Current
I
CCR2
CE=OE=V
IL
, WE=V
IH
,MODE =V
IL
, all
DQs open, ADV =V
IL
/V
IH
, Address
Inputs =V
IL
/V
IH,
CLK at f = F
CLK
(max.)
-
-
175
mA
V
DD
Erase or
Program Current
I
CCW
Erase or Program Operation in
Progress, all DQs open.
-
-
50
mA
Standby V
DD
Current (TTL input)
I
SB
1
CE = V
IH
, all DQs open
Other inputs = V
IL
/V
IH
-
2
3
mA
Standby V
DD
Current
(CMOS input)
I
SB
2
CE = V
DD
±
0.3V, all DQs open
Other Inputs = GND
±
0.3V or V
DD
±
0.3V
-
20
200
μ
A
Input Leakage Current
I
LI
V
IN
= GND to V
DD
-
-
±
10
±
10
μ
A
μ
A
Output Leakage
Current
I
LO
V
OUT
= GND to V
DD
-
-
Input Low Voltage
V
IL
-
-0.3
-
0.8
V
Input High Voltage
V
IH
-
2.0
-
V
DD
+0.5
V
Output Low Voltage
V
OL
I
OL
= 2.1 mA
-
-
0.45
V
Output High Voltage
V
OH
I
OH
= -0.4 mA
2.4
-
-
V
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