SICK
接近開關測量質量穩(wěn)定可靠 -
不受被測物體影響憑借強大的光學系統(tǒng)和改進的信號處理技術,可實現(xiàn)結構化表面、深黑色表面以及高光澤表面的測量通過高測量頻率提高生產(chǎn)率智能出廠設置和操作直觀,可輕松實現(xiàn)試運行和操作憑借強大的性能與相對較低的購置成本,實現(xiàn)很高的經(jīng)濟性應用極端的光照條件下也具有很高的可用性借助
IO-Link 和 SOPAS 軟件實現(xiàn)快速集成。
SICK 接近開關特點
重復性:2 μm ... 20 μm
線性度:± 10 μm ... 100 μm
測量頻率:高達 3 kHz
通過 OLED 顯示屏或 SOPAS ET 進行直觀的配置
測量范圍為 25 mm 至 160 mm
激光級別 1
模擬輸出和數(shù)字輸出,帶 IO-Link 接口
堅固的微型外殼